主要包括微處理器系統、面板顯示及按鍵控制電路、精密延時信號發生器、窄脈沖功率驅動及發光強度控制電路、精密測時器、激光脈沖同步器、激光脈沖能量探測器及前置放大器、高速數據采集轉換器及打印機控制電路等。

 

1 “雙頻雙光路耦合”法實現激光測距性能的綜合測試

本方案的基本思想是將目標漫反射的遠方目標回波由半導體激光器模擬，當模擬該回波的光譜和空間特性后，即可驅動激光器的邏輯單元工作。而激光脈沖相應距離上的飛行時間則由精密延時模塊實現。這樣將激光脈沖在空間的延遲特性轉換為時間特性，從而將遠方目標從一定距離拉近到被測儀器前端，代替了激光測距機性能檢測必須要有遠方的實際合作目標的傳統檢測方法。

 

2 測距邏輯的檢測

當檢測設備接收到“取樣”脈沖后即控制精密延時器開始計時，AVR單片機控制精密延時器分別發出1個、2個、3個模擬回波脈沖信號，這幾個模擬回波在時間上對應不同的目標距離，這樣在激光測距機的接收通道上就可以接收到幾個激光脈沖，操作激光測距機的“選通”旋鈕，分別對其顯示，即可判斷激光測距機的測距邏輯和距離選通功能是否正常。